日本Densoku CT-4微电脑型电解式膜厚计
CT-4微电脑型电解式膜厚计为旧机型CT-2改良而成，具中文及日文等显示操作画面。微电脑处理器具备自我诊断机能，采用中文化对话设定模式，多达50种测定条件登录及细微感度调整等，对于绝大多数的电镀层都适合使用，另外，备有选购的线材测试器，对于线材或细小部件皆可应用；加装记录器时，则可进行多重镍厚度分析。

型号	CT-4
测定方式	库伦测量法
测定对象	铬、镍、铜、锌、金、银、锡、镉、铟、铅、钴、化学镍、双重镍、 三重镍、黑铬、锡锌合金、锡铅合金、铜锌合金、镍钴合金、镍铁合金等
测定范围	0.006~300um
最小显示	0.001um
测量面积	A测头∮3.4mm、B测头∮2.4mm、C测头∮1.7mm
本体精度	± 1%
电解速率	0.125um/s、0.0125um/s、0.00125um/s
测量频道	具50组测量频道登录容量
镀层测量	最多可设定5层，并可分别统计计算
测量单位	um、nm、mg(g/㎡)
外部输出	RS-232C传输埠
电源	AC110V(50/60Hz)
尺寸重量	287(W)x302(D)x181(H)mm，5.8kg
符合规范	JIS H8501、JIS H8610-8619、ASTM B504-82、MIL、ISO 2177、DIN 50932、DIN 50955等
附属品	测定台、专用印表机、校正标准板1片、空气搅拌管、A/B不锈钢电解槽、 A/B/C橡胶测头、电解液100ml、清洁液100ml、操作手册等
选购附件	线材测试器WT、记录器、电解液500ml/瓶、校正标准板