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深圳市禾苗分析仪器有限公司

重金属检测、RoHS检测

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三维定位镀层测厚仪器
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产品: 浏览次数:130三维定位镀层测厚仪器 
品牌: 禾苗 HeLeeX
最小起订量: 1 台
供货总量: 100 台
发货期限: 自买家付款之日起 7 天内发货
有效期至: 2021-03-14 [已过期]
最后更新: 2019-03-25 02:14
详细信息

外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)

样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)

仪器重量:50kg

供电电源:AC220V/ 50Hz

*大功率:330W

工作温度:15-30℃

相对湿度:85%,不结露

探测器

类型:X123探测器(原装进口高性能电致冷半导体探测器)

Be窗厚度:1mil

晶体面积:25mm2

*佳分辨率:145eV

信号处理系统:DP5

X射线管

电压:0-50v

*大电流;2mA

*大功率:50W

靶材:Mo

Be窗厚度:0.2mm

使用寿命:大于2w小时

高压电源

输出电压:0-50Kv

灯丝电流0-2mA

*大功率:50w

纹波系数:0.1%(p-p值)

8小时稳定性:0.05%

摄像头

焦距:微焦距

驱动:免驱动

像素:500万像素

准直器、滤光片

系统:快拆卸准直器、滤光片系统

材质:多种材质准直器

光斑:光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

十字激光头

光斑形状:十字线

输出波长:红光650nm

光学透镜:玻璃透镜

尺寸Φ10×30mm

发散角度:0.1-2mrad

工作电压:DC 5V

输出功率:<5mW

工作温度:1050

其它配件

开关电源:进口高性能开关电源

散热风扇:进口低噪声、大风量风扇

样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

辐射标志警示

仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试

模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率

*小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确

空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计

电路系统符合EMC、FCC测试标准

软件技术

分析元素:Na~U之间元素

分析时间:90秒

界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作

数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全

根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度

配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。

根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。


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